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ATOS電磁閥密封裝置的設(shè)計(jì)
更新時(shí)間:2020-05-18   點(diǎn)擊次數(shù):1128次

 ATOS電磁閥上密封裝置的設(shè)計(jì)


    在閥門(mén)全開(kāi)時(shí),阻止工作介質(zhì)向填料函處泄漏的一種裝置稱為上密封裝置。
    上密封裝置有兩個(gè)作用。上密封裝置可以減小工作介質(zhì)對(duì)填料的損壞。工業(yè)閥門(mén)在絕大多數(shù)工作時(shí)間處于開(kāi)啟狀態(tài),如無(wú)上密封裝置,則介質(zhì)壓力直接作用于填料。填料長(zhǎng)期處于受壓狀態(tài),易老化。第二,當(dāng)填料處有泄漏時(shí),全開(kāi)閥門(mén),使上密封裝置處于工作狀態(tài),就可以帶壓進(jìn)行填料更換。因此,對(duì)于閘閥和截止閥都規(guī)定要有上密封裝置。


    上密封面可用在閥蓋上堆焊鉆鉻鎢硬質(zhì)合金,然后精加工、研磨而成的工藝制得(對(duì)于奧氏體不銹鋼材料的閥蓋,可直接在閥蓋上加工上密封面),也可在專門(mén)的上密封座上研磨而成。


    ATOS電磁閥結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)時(shí)需注意的問(wèn)題和要求
    (1)低溫閥門(mén)關(guān)閉后,殘留在閥體中的低溫介質(zhì)因溫度升高而迅速氣化,造成閥體內(nèi)部異常升壓的問(wèn)題;
    (2)低溫對(duì)填料函密封性能的不利影響;
    (3)零部件冷變形對(duì)閥門(mén)的有害影響;
    (4)低溫介質(zhì)對(duì)零部件的防爆要求等。

 


    (5)閥體應(yīng)能充分承受溫度變化而引起的膨脹、收縮,且閥座部分的結(jié)構(gòu)不會(huì)因溫度變化而產(chǎn)生變形;
    (6)采用能保護(hù)填料函的長(zhǎng)頸閥蓋結(jié)構(gòu);
    (7)采用無(wú)論溫度如何變化均能保持可靠密封的閥瓣,例如閘閥采用彈性閘板和開(kāi)式閘板、截止閥采用錐形閥瓣等;
    (8)采用上密封結(jié)構(gòu);

 


    (9)采用鉆鉻鎢硬質(zhì)合金堆焊結(jié)構(gòu)的閥座、閥瓣密封面;
    (10)采用泄壓孔防止異常升壓,泄壓孔開(kāi)設(shè)位置視閥門(mén)結(jié)構(gòu)而定,可以設(shè)在閥體上,也可以設(shè)在閘板上。

 


    ATOS電磁閥的故障原因分析
    ATOS電磁閥在市面上的發(fā)展快速,但也存在著一些問(wèn)題。低溫閥門(mén)產(chǎn)生泄漏的原因主要有兩種情況,一是內(nèi)漏;二是外漏。

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